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Atividade
| 133685 - Introdução à microscopia eletrônica de transmissão: teoria e prática |
| Período da turma: | 26/05/2025 a 28/05/2025
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| Descrição: | Programa completo do treinamento:
Dia 1 - Teoria - Introdução teórica sobre a microscopia eletrônica de transmissão: - Breve histórico - Princípios básicos da técnica de microscopia eletrônica de transmissão - Funcionamento do microscópio eletrônico de transmissão - Tipos de microscopia eletrônica: Qual técnica utilizar, TEM ou MEV? - Condições importantes para operação - Preparo de amostras (condições, técnicas) - Vantagens e limitações da técnica Dia 1 – Prática - Preparo de amostras - Apresentação dos tipos de grids para os preparos - Manuseio e limpeza do porta-amostras - Alinhamento do equipamento no modo transmissão Dia 2- Teoria - Difração de elétrons e EDS: • Apresentação do tema e objetivos da aula. • Importância da caracterização de materiais em pesquisa científica e industrial. • Visão geral das técnicas de difração de elétrons e EDS. • Princípios fundamentais da interação entre elétrons e materiais. • Tipos de técnicas de difração de elétrons: • Aplicações típicas na caracterização microestrutural e cristalográfica. • Fundamentos da geração de raios-X na interação com elétrons. • Funcionamento do detector EDS e análise espectral. • Exemplos de aplicação em diferentes materiais. • Comparação entre as técnicas e suas complementaridades. Dia 2 - Prática - Complementando o alinhamento feito no dia anterior, serão feitas as capturas de imagens e mostradas as melhores técnicas para melhores aquisições destas. - Alinhamento do microscópio no modo STEM para a utilização da técnica de EDS - Obtenção e tratamento de dados de espectros de EDS Dia 3- Prática Este dia será agendado conforme disponibilidade das microscopistas e dos alunos, que terão 4 horas práticas individuais disponíveis para operar o equipamento e realizar análises de suas amostras. Bibliografia: • Williams, D. B., & Carter, C. B. (2009). Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science. Springer. • Egerton, R. F. (2011). Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope. Springer. • Goldstein, J. I., Newbury, D. E., Michael, J. R., Ritchie, N. W., Scott, J. H., & Joy, D. C. (2018). Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. Springer. • Reimer, L., & Kohl, H. (2008). Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation. Springer. • Fultz, B., & Howe, J. M. (2012). Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials. Springer. • Ruska, E. (1986). The development of the electron microscope and of electron microscopy. Nobel Lecture, December 8, 1986. • SANTOS, O. M. M. dos. Microscopia Eletrônica de Transmissão, Técnicas Analíticas e de Espectroscopia. 2013. Dissertação (Mestrado em Engenharia de Materiais) – Pontifícia Universidade Católica do Rio de Janeiro, Rio de Janeiro, 2013. Disponível em: https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/21808/21808_5.PDF. Acesso em: 20 jul. 2024. |
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| Carga Horária: |
16 horas |
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| Tipo: | Obrigatória | ||||
| Vagas oferecidas: | 11 | ||||
| Ministrantes: |
Mônica Freitas da Silva |
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